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Application of Combined FIB-TOF-SIMS System in Mineralogy
Author(s): 
Pages: 247-252
Year: Issue:  4
Journal: Uranium Geology

Keyword:  飞行时间二次离子质谱聚焦离子束扫描电镜元素三维空间分布轻元素分析纳米级空间分辨率;
Abstract: 基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势.可以实现:扫描电镜下原位分析H、Li、Be、B等轻元素;元素分布的纳米级横向空间分辨率;元素三维空间分布.能够同时得到纳米级矿物的形貌、元素组成以及元素空间分布信息,该技术在地学领域有广阔的应用前景.
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